Quantitative layer-by-layer perimetry : an extended analysis

著者

• Enoch, Jay M.
• Fitzgerald, Constance Ramsey
• Campos, E. C. (Emilio C.)
• Goldman, Hans

書誌事項

Quantitative layer-by-layer perimetry : an extended analysis

Jay M. Enoch, C.R. Fitzgerald, E.C. Campos ; with a foreword by Hans Goldman

（Current ophthalmology monographs）

Grune & Stratton, c1981

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BB08387095
• ISBN:
  • 0808912828
• LCCN: 80023156
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xii, 232 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : RE79.P4
  • DC19 : 617.7/307545
• 件名:
  • LCSH : Perimetry
  • MESH : Perimetry
  • MESH : Visual fields
• 親書誌ID:
  • BA0128282X