Life-cycle assessment of semiconductors

著者

• Boyd, Sarah B.
• Horvath, Arpad

書誌事項

Life-cycle assessment of semiconductors

by Sarah B. Boyd ; foreword by Arpad Horvath

Springer, c2012

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB08480217
• ISBN:
  • 9781441999870
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xxvii, 226 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC22 : 004.16
• 件名:
  • LCSH : Microprocessors -- Evaluation
  • LCSH : Product life cycle