Accelerated reliability and durability testing technology

著者

• Klyatis, Lev M.

書誌事項

Accelerated reliability and durability testing technology

Lev M. Klyatis

（Wiley series in systems engineering）

Wiley, c2012

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB08994859
• ISBN:
  • 9780470454657
• LCCN: 2009017252
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Hoboken, N.J.
• ページ数/冊数: xviii, 411 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TS173
  • DC22 : 620/.00452
• 件名:
  • LCSH : Reliability (Engineering)
  • LCSH : Accelerated life testing
• 親書誌ID:
  • BA10838688