In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and materials science

著者

• Dehm, Gerhard
• Howe, James M.
• Zweck, Josef

書誌事項

In-situ electron microscopy : applications in physics, chemistry and materials science

edited by Gerhard Dehm, James M. Howe, and Josef Zweck

Wiley-VCH, c2012

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB09129991
• ISBN:
  • 9783527319732
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Weinheim
• ページ数/冊数: xviii, 383 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC23 : 502.825
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy