GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

書誌事項

GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

櫻井利夫研究代表者

(科学研究費補助金(基盤研究(S))研究成果報告書, 平成14年度-平成17年度)

[櫻井利夫], 2006.5

タイトル別名

平成14年度~平成17年度科学研究費補助金(基盤研究(S))研究成果報告書 : (課題番号14102010)

タイトル読み

GaNケイ ハンドウタイ ヘテロ コウゾウ ニオケル ヒョウメン カイメン ノ ゲンシ レベル ヒョウカ ト ブッセイ セイギョ

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB1031943X
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    engjpn
  • 出版地
    [仙台]
  • ページ数/冊数
    67p
  • 大きさ
    30cm
  • 親書誌ID
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