収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用

著者

• 津田, 健治 ツダ, ケンジ

書誌事項

収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用

津田健治研究代表者

（科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書）

[津田健治], 2007.5

タイトル別名

平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書(課題番号17510083)

タイトル読み

シュウソク デンシ カイセツホウ ニヨル ナノスケール テン ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ ト テン ケッカン ユウキ ブッセイ エノ オウヨウ

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB10459461
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [仙台]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA30764121