Inside the TOEIC exam

著者

• Van Metre, Donald

書誌事項

Inside the TOEIC exam

by Donald Van Metre and the staff of Kaplan test prep and admissions

Kaplan, 2008

2nd ed

タイトル別名

Inside the new TOEIC exam : your step-by-step guide to scoring higher

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB11206552
• ISBN:
  • 9781427797810
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xii, 227 p.
• 大きさ: 17 cm
• 分類:
  • DC22 : 428.24
• 件名:
  • LCSH : Test of English for International Communication