土壌環境中の有害元素の挙動 : 放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション
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土壌環境中の有害元素の挙動 : 放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション
博友社, 2012.11
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ドジョウ カンキョウチュウ ノ ユウガイ ゲンソ ノ キョドウ : ホウシャ コウゲン エックスセン キュウシュウ ブンコウホウ ニ ヨル ブンシ スケール スペシエーション
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内容説明・目次
目次
- 1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法—特徴・測定方法、将来展望
- 2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る
- 3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
- 4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
- 5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析
「BOOKデータベース」 より