Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications

著者

• Zhou, Weilie
• Wang, Zhong Lin

書誌事項

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications

edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang

Springer, c2010

• : [pbk.]

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB13568838
• ISBN:
  • 9781441922090
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 522 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • DC22 : 502.825
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscopy
  • LCSH : Nanotechnology