Design-for-test and test optimization techniques for TSV-based 3D stacked ICs
著者
書誌事項
Design-for-test and test optimization techniques for TSV-based 3D stacked ICs
Springer, c2014
大学図書館所蔵 件 / 全2件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
注記
Includes bibliographical references
