Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

書誌事項

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury ... [et al.]

Springer Science+Business Media, [201-], c2003

3rd ed

  • : [pbk.]

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注記

"Originally published by Springer Science+Business Media,LLC in 2003"--T.p. verso

"Softcover reprint of the hardcover 3rd edition 2003"--T.p. verso

"Corrected at 6th printing 2007"--T.p. verso

Includes bibliographical and index

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB1671047X
  • ISBN
    • 9781461349693
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York
  • ページ数/冊数
    xix, 690 p.
  • 大きさ
    26 cm.
  • 件名
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