17th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 2011, Cambridge, UK, 4-7 April 2011

著者

    • International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

書誌事項

17th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 2011, Cambridge, UK, 4-7 April 2011

(Journal of physics : conference series, v. 326)

Institute of Physics , Printed from e-media with permission by Curran Associates, c2011

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB17704530
  • ISBN
    • 9781618392961
  • 出版国コード
    uk
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Bristol,Red Hook, N.Y.
  • ページ数/冊数
    314 p.
  • 大きさ
    27 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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