ToF-SIMS : materials analysis by mass spectrometry

著者

• Vickerman, J. C.
• Briggs, D. (David)

書誌事項

ToF-SIMS : materials analysis by mass spectrometry

edited by John C. Vickerman, David Briggs

IM Publications and SurfaceSpectra, c2013

2nd ed

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB17811610
• ISBN:
  • 9781906715175
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Chichester, West Sussex
• ページ数/冊数: vii, 732 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • DC23 : 543.65
• 件名:
  • LCSH : Time-of-flight mass spectrometry
  • LCSH : Surfaces (Technology) -- Analysis