Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy

著者

• Voigtländer, Bert

書誌事項

Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy

Bert Voigtländer

（Nanoscience and technology）

Springer, c2015

注記

Includes bibliogrpahical references (p. 375-376) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB18388684
• ISBN:
  • 9783662452394
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin
• ページ数/冊数: xv, 382 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC23 : 670
  • SG : 670
• 件名:
  • FREE : (Produktform)Hardback
  • FREE : (Zielgruppe)Fachpublikum/ Wissenschaft
  • FREE : (Zielgruppe)Research
  • FREE : (BIC Subject Heading)TDPB
  • FREE : Scanning probe microscopy
  • FREE : Scanning force microscopy
  • FREE : Non-contact AFM
  • FREE : Cantilever detection methods
  • FREE : Scanning tunneling spectroscopy
  • FREE : (VLB-WN)1689: Hardcover, Softcover / Technik/Sonstiges
• 親書誌ID:
  • BA33734375