Microelectronic test patterns : an overview

著者

• Buehler, Martin G.

書誌事項

Microelectronic test patterns : an overview

Martin G. Buehler

（NBS special publication, 400-6 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1974

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• Microelectronic test patterns: an overview / [by] Martin G. Buehler.

  1974

  HathiTrust

• Microelectronic test patterns: an overview / [by] Martin G. Buehler. (400-6)

  1974

  HathiTrust

注記

References: p. 11

• NII書誌ID(NCID): BB18570666
• LCCN: 74013001
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington
• ページ数/冊数: iv, 19 p.
• 大きさ: 27 cm
• 分類:
  • LCC : QC100
  • LCC : TK7874
  • DC : 389/.08 s
  • DC : 621.381/73
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Electronic apparatus and appliances -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA0011083X