Safe operating area limits for power transistors

著者

• Blackburn, David L.

書誌事項

Safe operating area limits for power transistors

David L. Blackburn

（NBS special publication, 400-44 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1977

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• Safe operating area limits for power transistors / David L. Blackburn.

  1977

  HathiTrust

  

• Safe operating area limits for power transistors / David L. Blackburn. (no.400:44)

  1977

  HathiTrust

  

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB18841854
• LCCN: 77608172
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington
• ページ数/冊数: iii, 14 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QC100
  • LCC : TK7871.92
  • DC : 602/.1 s
  • DC : 621.31/7
• 件名:
  • LCSH : Power transistors -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA0011083X