A reverse-bias safe operating area transistor tester

著者

• Berning, David W.

書誌事項

A reverse-bias safe operating area transistor tester

David W. Berning

（NBS special publication, 400-54 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1979

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• A reverse-bias safe operating area transistor tester / David W. Berning.

  1979

  HathiTrust

  

• A reverse-bias safe operating area transistor tester / David W. Berning. (no.400:54)

  1979

  HathiTrust

  

注記

Bibliography: p. 14

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB18863074
• LCCN: 78600157
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington
• ページ数/冊数: v, 37 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QC100
  • LCC : TK7871.9
• 件名:
  • LCSH : Transistors -- Testing -- Equipment and supplies
• 親書誌ID:
  • BA0011083X