2015 IEEE International Test Conference : (ITC 2015) : Anaheim, California, USA, 6-8 October 2015

書誌事項

2015 IEEE International Test Conference : (ITC 2015) : Anaheim, California, USA, 6-8 October 2015

IEEE, c2015

タイトル別名

CFP15ITC-POD

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注記

"IEEE catalog Number: CFP15ITC-POD"

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB20991849
  • ISBN
    • 9781467365796
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    xii, 403 p.
  • 大きさ
    28 cm
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