Defects and impurities in silicon materials : an introduction to atomic-level silicon engineering

書誌事項

Defects and impurities in silicon materials : an introduction to atomic-level silicon engineering

Yutaka Yoshida, Guido Langouche, editors

(Lecture notes in physics, v. 916)

Springer, c2015

  • : pbk

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB21026400
  • ISBN
    • 9784431557999
  • LCCN
    2016930107
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Tokyo
  • ページ数/冊数
    xv, 487 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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