電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準
著者
書誌事項
電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準
(JSMS-SD, 11-16)
日本材料学会, 2016.5
- タイトル別名
-
Standard for misorientation analysis by electron backscatter diffraction (EBSD) for material characterization
- タイトル読み
-
デンシ コウホウ サンラン カイセキ EBSD ホウ ニ ヨル ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ケッショウ ホウイサ ソクテイ ヒョウジュン
大学図書館所蔵 件 / 全4件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
この図書・雑誌をさがす
注記
日本材料学会標準JSMS-SD-11-16