電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準
Author(s)
Bibliographic Information
電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準
(JSMS-SD, 11-16)
日本材料学会, 2016.5
- Other Title
-
Standard for misorientation analysis by electron backscatter diffraction (EBSD) for material characterization
- Title Transcription
-
デンシ コウホウ サンラン カイセキ EBSD ホウ ニ ヨル ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ケッショウ ホウイサ ソクテイ ヒョウジュン
Available at / 5 libraries
-
No Libraries matched.
- Remove all filters.
Search this Book/Journal
Note
日本材料学会標準JSMS-SD-11-16
