次世代パワー半導体実装の要素技術と信頼性

書誌事項

次世代パワー半導体実装の要素技術と信頼性

菅沼克昭監修

(エレクトロニクスシリーズ)

シーエムシー出版, 2016.5

タイトル別名

System integration of wide band gap semiconductors

High technology information

タイトル読み

ジセダイ パワー ハンドウタイ ジッソウ ノ ヨウソ ギジュツ ト シンライセイ

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注記

文献あり

内容説明・目次

目次

  • 第1章 次世代パワー半導体の開発動向とモジュール化技術動向
  • 第2章 ワイヤボンド・ダイアタッチ技術
  • 第3章 樹脂技術
  • 第4章 絶縁基板技術
  • 第5章 冷却・放熱技術
  • 第6章 受動部品
  • 第7章 信頼性評価・検査技術

「BOOKデータベース」 より

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB2137680X
  • ISBN
    • 9784781311616
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    v, 278p
  • 大きさ
    26cm
  • 親書誌ID
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