Fundamentals of bias temperature instability in MOS transistors : characterization methods, process and materials impact, DC and AC modeling
著者
書誌事項
Fundamentals of bias temperature instability in MOS transistors : characterization methods, process and materials impact, DC and AC modeling
（Advanced microelectronics, 52）
Springer, c2016
大学図書館所蔵 件 / 全1件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
注記
Includes bibliographical references and index
