超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

著者

• 谷口, 研二 タニグチ, ケンジ

書誌事項

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

研究代表者 谷口研二

（科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書, ; 平成2年度）

大阪大学工学部, 1991.3

タイトル読み

チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ

注記

[課題番号]: 01550248

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB23090943
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: [吹田]
• ページ数/冊数: 1 冊
• 大きさ: 26 cm
• 親書誌ID:
  • BN03663735