超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

書誌事項

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

研究代表者 谷口研二

(科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書, ; 平成2年度)

大阪大学工学部, 1991.3

タイトル読み

チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ

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注記

[課題番号]: 01550248

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB23090943
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    [吹田]
  • ページ数/冊数
    1 冊
  • 大きさ
    26 cm
  • 親書誌ID
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