Variation-aware advanced CMOS devices and SRAM

著者

• Shin, Changhwan

書誌事項

Variation-aware advanced CMOS devices and SRAM

Changhwan Shin

（Advanced microelectronics, 56）

Springer Science+Business Media, c2016

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB23188436
• ISBN:
  • 9789401775953
• LCCN: 2016940803
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Dordrecht
• ページ数/冊数: vii, 140 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC23 : 621.384134
• 件名:
  • LCSH : Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design
• 親書誌ID:
  • BA41247416