走査電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究

Author(s)

• 佐藤, 寿芳 サトウ, ヒサヨシ

Bibliographic Information

走査電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究

研究代表者 佐藤壽芳

（科学研究費補助金(試験研究2)研究成果報告書）

[佐藤壽芳], [198-]

Note

昭和55年度科学研究費補助金(試験研究(2))研究成果報告書(課題番号485061)

Details

• NCID: BB23447920
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: [東京]
• Pages/Volumes: 20p.
• Size: 26cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA31269048