走査電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究

著者

• 佐藤, 寿芳 サトウ, ヒサヨシ

書誌事項

走査電子顕微鏡による表面粗さ計測に関する研究

研究代表者 佐藤壽芳

（科学研究費補助金(試験研究2)研究成果報告書）

[佐藤壽芳], [198-]

注記

昭和55年度科学研究費補助金(試験研究(2))研究成果報告書(課題番号485061)

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB23447920
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: [東京]
• ページ数/冊数: 20p.
• 大きさ: 26cm
• 親書誌ID:
  • BA31269048