低波数域ラマン散乱による半導体の結晶欠陥の評価解析

Author(s)

• 中島, 信一 ナカシマ, シンイチ

Bibliographic Information

低波数域ラマン散乱による半導体の結晶欠陥の評価解析

研究代表者 中島信一

（科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書, ; 平成3年度～4年度）

大阪大学工学部, 1993.3

Title Transcription

テイハスウイキ ラマン サンラン ニ ヨル ハンドウタイ ノ ケッショウ ケッカン ノ ヒョウカ カイセキ

Note

[課題番号]: 03650015

Details

• NCID: BB23458814
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: eng
• Place of Publication: [吹田]
• Pages/Volumes: 1 冊
• Size: 31 cm
• Parent Bibliography ID:
  • BN03663735