Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

著者

• Egerton, R. F.

書誌事項

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

R.F. Egerton

Springer, c2016

2nd ed

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB2352972X
• ISBN:
  • 9783319398761
• 出版国コード: sz
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [Cham]
• ページ数/冊数: xi, 196 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC23 : 502.825
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy