光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

Author(s)

    • 渡辺, 巌

Bibliographic Information

光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

研究代表者 渡辺巌

（科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書, ; 平成5年～6年度）

大阪大学理学部, 1995.3

Title Transcription

ヒカリ デンシ シュウリツ XAFSホウ ニ ヨル ヨウエキ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ

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Note

[課題番号]: 05453057

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Details

  • NCID
    BB24168456
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    eng
  • Place of Publication
    [豊中]
  • Pages/Volumes
    1 冊
  • Size
    30 cm
  • Parent Bibliography ID
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