光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析
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書誌事項
光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析
(科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書, ; 平成5年~6年度)
大阪大学理学部, 1995.3
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ヒカリ デンシ シュウリツ XAFSホウ ニ ヨル ヨウエキ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ
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注記
[課題番号]: 05453057