Fundamental principles of engineering nanometrology

著者

    • Leach, Richard

書誌事項

Fundamental principles of engineering nanometrology

by Richard Leach

(Micro & nano technologies)

William Andrew / Elsevier, 2014

2nd ed

  • : hbk

大学図書館所蔵 件 / 2

この図書・雑誌をさがす

関連文献: 1件中  1-1を表示

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB24841644
  • ISBN
    • 9781455777532
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Amsterdam
  • ページ数/冊数
    xxi, 361 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
ページトップへ