Logic & memory experiments using TTL integrated circuits

著者

• Larsen, David G
• Rony, Peter R.

書誌事項

Logic & memory experiments using TTL integrated circuits

by David G. Larsen and Peter R. Rony

（Blacksburg continuing education series）

H. W. Sams, c1978-1979

• 1
• 2

注記

Bibliography: v. 1, p. 343-344

Includes index

Authors names reversed on v. 2

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB25775840
• ISBN:
  • 067221542X
  • 0672215438
• LCCN: 78057209
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Indianapolis
• ページ数/冊数: 2 v.
• 大きさ: 22 cm
• 分類:
  • LCC : TK7868.D5
  • DC : 621.3819/5835
• 件名:
  • LCSH : Digital electronics -- Experiments
  • LCSH : Transistor-transistor logic circuits -- Experiments
  • LCSH : Computer storage devices -- Experiments
  • LCSH : Integrated circuits -- Experiments
• 親書誌ID:
  • BA11263810