Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits

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Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits

Ran Wang, Krishnendu Chakrabarty

Springer International Publishing : Springer, 2017

  • : softcover

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注記

Softcover reprint of the hardcover 1st edition 2017

Includes bibliographical references

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB27597572
  • ISBN
    • 9783319854618
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Cham
  • ページ数/冊数
    xiv, 182 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 分類
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