Etchable line defects in crystals are not necessarily dislocations

書誌事項

Etchable line defects in crystals are not necessarily dislocations

by R.L. Fleischer and R.M. Walter

(Technical information series, Class 1)

General Electric Research and Development Center, 1965

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注記

Cover title

"Report. No. 65-C-194, December 1965"

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB28560669
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Schenectady, N.Y.
  • ページ数/冊数
    2 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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