2018 IEEE International Test Conference : (ITC 2018) : Phoenix, Arizona, USA 29 October-1 November 2018

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2018 IEEE International Test Conference : (ITC 2018) : Phoenix, Arizona, USA 29 October-1 November 2018

IEEE, c2018

タイトル別名

CFP18ITC-POD

注記

"IEEE catalog number: CFP18ITC-POD"

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB28589977
• ISBN:
  • 9781538683835
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, NJ
• ページ数/冊数: 547 p.
• 大きさ: 28 cm