VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法

著者

• 藤岡, 弘 フジオカ, ヒロム

書誌事項

VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法

研究代表者 藤岡弘

（科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書, ; 平成8年度～平成9年度）

大阪大学工学部, 1998.3

タイトル読み

VLSI ナイブ トランジスタ レベル コショウ ノ CAD レイアウト カラ ノ カイソウテキ ジドウ コショウ ツイセキホウ

注記

課題番号: 08455164

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB28828976
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: [吹田]
• ページ数/冊数: 1 冊
• 大きさ: 30 cm
• 親書誌ID:
  • BA30193701