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Autotestcon '78 : International Automatic Testing Conference : conference record

sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1978

タイトル別名

IEEE 1978 Autotestcon

78CH1416-7 AES

78CH14167

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注記

"IEEE Publication 78CH1416-7 AES"

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BC02537341
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York, NY
  • ページ数/冊数
    viii, 405 p.
  • 大きさ
    29 cm
  • 件名
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