2019 IEEE International Test Conference : (ITC 2019) : Washington, DC, USA, 9-15 November 2019

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2019 IEEE International Test Conference : (ITC 2019) : Washington, DC, USA, 9-15 November 2019

IEEE, c2019

タイトル別名

CFP19ITC-POD

注記

"IEEE catalog number: CFP19ITC-POD"

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC03232882
• ISBN:
  • 9781728148243
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 561 p.
• 大きさ: 28 cm