Characterization, testing, measurement, and metrology

著者

• Prakash, Chander
• Singh, Sunpreet
• Davim, J. Paulo

書誌事項

Characterization, testing, measurement, and metrology

edited by Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim

（Manufacturing design and technology series / series editor, J. Paulo Davim, Functional materials and advanced manufacturing）

CRC Press, 2021

• : hbk

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC05152387
• ISBN:
  • 9780367275150
• LCCN: 2020018334
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boca Raton, FL
• ページ数/冊数: xii, 192 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TA410
  • DC23 : 620.1/10287
  • DC23 : 620.110287
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Testing
• 親書誌ID:
  • BB24358145