Quantitative atomic-resolution electron microscopy

著者

• De Backer, Annick
• Hÿtch, Martin
• Hawkes, Peter W.

書誌事項

Quantitative atomic-resolution electron microscopy

Annick De Backer ... [et al.] ; edited by Martin Hÿtch and Peter W. Hawkes

（Advances in imaging and electron physics, v. 217）

Academic Press, c2021

注記

Includes bibliographical references (p. 255-278) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC05602960
• ISBN:
  • 9780128246078
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: xi, 282 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • DC23 : 502.825
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy
  • LCSH : Stereology
• 親書誌ID:
  • BC03122013