機器分析ハンドブック
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機器分析ハンドブック
化学同人, 2021.3
- 3 固体・表面分析編
- Other Title
-
Handbook of instrumental analysis
固体表面分析編
- Title Transcription
-
キキ ブンセキ ハンドブック
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固体・表面分析編 / 宗林由樹[ほか]編
BC10924478
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固体・表面分析編 / 宗林由樹[ほか]編
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Note
固体・表面分析編の編者: 宗林由樹, 辻幸一, 藤原学, 南秀明
参考文献あり
索引: p191-196
Description and Table of Contents
Table of Contents
- 熱分析
- 試料準備(固体試料の溶解;分離操作)
- 原子吸光分析法
- 誘導結合プラズマ発光分析法(ICP‐OES)・質量分析法(ICP‐MS)
- 蛍光X線分析法
- X線回折法
- X線光電子分光法
- 光学顕微鏡
- 電子顕微鏡(TEM、SEM、EPMA)
- プローブ顕微鏡
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