Image matching and analysis : 22-24 October 2001, Wuhan, China
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Image matching and analysis : 22-24 October 2001, Wuhan, China
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4552)
SPIE, c2001
- pbk.
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注記
"Second SPIE International Symposium on Multispectral Image Processing and Pattern Recognition"--P. xi
Addendum tipped in
Includes bibliographical references and index