Independent component analyses, wavelets, unsupervised smart sensors, and neural networks IV : 17 and 19-21 April 2006, Kissimmee, Florida, USA
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Independent component analyses, wavelets, unsupervised smart sensors, and neural networks IV : 17 and 19-21 April 2006, Kissimmee, Florida, USA
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 6247)
SPIE, c2006
- タイトル別名
-
Independent component analyses, wavelets, and neural networks
Independent component analyses, wavelets, unsupervised smart sensors, and neural networks 4
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注記
Includes bibliographical references and author index
内容説明・目次
内容説明
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.
「Nielsen BookData」 より