Practical electron microscopy of lattice defects

著者

• 坂, 公恭 サカ, ヒロヤス

書誌事項

Practical electron microscopy of lattice defects

Hiroyasu Saka

World Scientific, c2021

注記

Includes bibliographical references (p. 285-286) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC08571604
• ISBN:
  • 9789811234699
• LCCN: 2021936018
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Hackensack, N.J.
• ページ数/冊数: xiii, 294 p.
• 大きさ: 24 cm
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy