Atomic force microscopy

著者

    • Voigtländer, Bert

書誌事項

Atomic force microscopy

Bert Voigtländer

（Nanoscience and technology）

Springer, c2019

2nd ed

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注記

"The first edition (2015, ISBN 978-3-662-45240-0) was published under the title, "Scanning Probe Microscopy"."--T.p. verso

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BC13469786
  • ISBN
    • 9783030136567
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Cham
  • ページ数/冊数
    xiv, 331 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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