Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices

著者

• Kelly, Joe, Ph. D.
• Engelhardt, Michael

書誌事項

Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices

Joe Kelly, Michael Engelhardt

（The Artech House microwave library）

Artech House, c2007

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC14135028
• ISBN:
  • 9781580537094
• LCCN: 2007272451
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xx, 301 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7895.E42
  • DC22 : 621.3815
• 件名:
  • LCSH : Systems on a chip -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00537481