世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑

著者

書誌事項

世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑

（LSIデータベース）

グローバルネット, 2021.10

• 2021

タイトル別名

世界半導体製造装置試験検査装置市場年鑑

Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual

タイトル読み

セカイ ハンドウタイ セイゾウ ソウチ・シケン/ケンサ ソウチ シジョウ ネンカン

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BC15335984
• ISBN:
  • 9784910417134
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 975p
• 大きさ: 28cm
• 分類:
  • NDLC : DL475
  • NDC10 : 549.8093
• 件名:
  • NDLSH : 半導体製造装置製造業
  • NDLSH : 半導体製造装置製造業
• 親書誌ID:
  • BC15335973