Reliability, testing, and characterization of MEMS/MOEMS II : 27-29 January 2003, San Jose, California, USA
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Reliability, testing, and characterization of MEMS/MOEMS II : 27-29 January 2003, San Jose, California, USA
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4980)
SPIE, c2003
- タイトル別名
-
Reliability, testing, and characterization of MEMS, MOEMS 2
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注記
Includes bibliographical references and index