2022 IEEE International Test Conference (ITC 2022) : Anaheim, California, USA, 23-30 September 2022

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2022 IEEE International Test Conference (ITC 2022) : Anaheim, California, USA, 23-30 September 2022

IEEE, c2022

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CFP22ITC-POD

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"IEEE catalog number: CFP22ITC-POD"

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BD03147430
  • ISBN
    • 9781665462716
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    xvii, 669 p.
  • 大きさ
    28 cm
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