2022 IEEE International Test Conference (ITC 2022) : Anaheim, California, USA, 23-30 September 2022

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2022 IEEE International Test Conference (ITC 2022) : Anaheim, California, USA, 23-30 September 2022

IEEE, c2022

タイトル別名

CFP22ITC-POD

注記

"IEEE catalog number: CFP22ITC-POD"

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BD03147430
• ISBN:
  • 9781665462716
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: xvii, 669 p.
• 大きさ: 28 cm